本發(fā)明公開(kāi)了一種超分辨結構光照明顯微鏡的頻譜優(yōu)化直接重建方法(direct?SIM),方法包括:讀取原始SIM圖像;生成或讀取測量的PSF;原始數據預處理增強等效調制深度;圖像域直接重建初始超分辨圖像;頻率域頻譜優(yōu)化;去卷積獲得最終超分辨圖像。與大多數基于Wiener?SIM架構的SIM算法不同,本發(fā)明的direct?SIM采用圖像域初始重建與頻率域頻譜優(yōu)化的聯(lián)合策略,在沒(méi)有任何照明條紋先驗知識并繞過(guò)偽影敏感的Wiener去卷積流程的情況下,可獲得具有最少化偽影且分辨率加倍的超分辨圖像。本發(fā)明可應用于實(shí)驗室自主搭建SIM系統和商業(yè)化SIM系統的數據處理。并且,本發(fā)明可應用于現有重建算法難以處理的許多場(chǎng)景,可重建高質(zhì)量超分辨圖像。
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發(fā)明專(zhuān)利
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專(zhuān)利名稱(chēng)：超分辨結構光照明顯微鏡的頻譜優(yōu)化直接重建方法專(zhuān)利類(lèi)型：發(fā)明專(zhuān)利專(zhuān)利號：CN202211633195.4發(fā)布日期：2025-12-17授權公告日：
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